1NM掃描電遷移粒徑譜儀特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
快速獲得粒徑和數(shù)量濃度的高分辨率數(shù)據(jù)
·優(yōu)化使擴(kuò)散損失最小
·1至50nm間>109個(gè)通道
·配合3081A長(zhǎng)DMA差分靜電遷移分析儀使用，可測(cè)量從1nm到1µm 3個(gè)粒徑數(shù)量級(jí)的粒子
模塊化組件設(shè)計(jì)，可以根據(jù)用戶測(cè)量需求定制，例如單獨(dú)使用1nm CPC等
內(nèi)置診斷和自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)組件，可以獲得可靠和可重復(fù)的測(cè)量數(shù)據(jù)
易于安裝和使用的氣溶膠儀器管理器（AIM）軟件
多功能的粒子測(cè)量方式：適用于多模樣品
1NM掃描電遷移粒徑譜儀應(yīng)用范圍
基礎(chǔ)氣溶膠研究
通過(guò)粒子源（如火焰合成、激光燒蝕、火花產(chǎn)生和成核/凝結(jié)）研究粒子成核和粒子生長(zhǎng)。
燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排氣研究（有機(jī)燃料、低于3nm的排放、天然氣發(fā)動(dòng)機(jī)、塑料成型和焊接
過(guò)濾研究
吸入或暴露室研究
*SMPS光譜儀包含3082型分級(jí)器、1nm DMA差分靜電遷移分析儀、3757型納米增強(qiáng)儀和3750型凝聚核粒子計(jì)數(shù)器等組件。
