波蘭Pro-Project RF Ruler X射線標(biāo)尺
圖像中的不透射線標(biāo)尺提供圖像尺寸的永久參考。它可用于檢查光場(chǎng)的準(zhǔn)確性和位置,以進(jìn)行質(zhì)量控制和調(diào)整,也可用于 X 射線檢查過(guò)程中,從而在 X 射線圖像本身上留下清晰的測(cè)量結(jié)果。
波蘭Pro-Project RF Ruler X射線標(biāo)尺特點(diǎn)
符合:
– IEC 61223-3-1
CE認(rèn)證
該手冊(cè)提供了進(jìn)行每項(xiàng)測(cè)試、結(jié)果評(píng)估和注冊(cè)的詳細(xì)指南
波蘭Pro-Project RF Ruler X射線標(biāo)尺技術(shù)數(shù)據(jù)
我們?yōu)槎喾N應(yīng)用生產(chǎn)多種尺寸和類型的不透射線標(biāo)尺,具有不同的比例和精度。請(qǐng)聯(lián)系我們以找到最適合您的解決方案。