德國(guó)QUART高分辨率掃帚測(cè)試卡
x射線測(cè)試圖案用于高對(duì)比度和/或空間分辨率測(cè)量。該程序在x射線質(zhì)量保證和服務(wù)方面有著悠久的傳統(tǒng),并且易于執(zhí)行。測(cè)試圖案用于評(píng)估膠片屏幕系統(tǒng)、放大技術(shù)和x射線成像系統(tǒng)的分辨率能力。圖案由不同的引線厚度組成。通常在每個(gè)圖案上指定相應(yīng)的厚度。每個(gè)測(cè)試圖案通常封裝在塑料中,即組織等效材料中。每個(gè)圖案的分辨率范圍因測(cè)試類型而異。
德國(guó)QUART高分辨率掃帚測(cè)試卡技術(shù)規(guī)范
23型:0.5…5.0 LP/mm/0.4°
39型:1.5…20.0 LP/mm/0.4°
39-4型:5.0…20.0 LP/mm/0.4°
82型:1.0…10.0 LP/mm/0.4°